【EI, Scopus检索】The 6th International Conference on Detection Technology and Intelligence System（DTIS 2026）
会议信息
时间地点：2026年12月4-6日，中国-昆明
截稿日期：详见官网，多轮截稿
大会简介
第六届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2026）将于2026年12月4-6日在中国昆明举行。DTIS 2026会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术，了解学术发展趋势，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者，企业界人士及其他相关人员参会交流。
征稿主题
| 检测技术 |
智能系统 |
| 传感器技术 |
机器人传感与数据融合 |
| 信号与信息处理 |
系统建模与辨识 |
| 自动检测与转换技术 |
智能无损检测 |
| 光学测量技术 |
智能故障检测与诊断 |
| 光电测量与控制系统 |
数据分析与大数据挖掘 |
| 检测系统运行与维护 |
计算机控制 |
| 检测电路基础 |
事件与数据驱动控制 |
| 光电子技术 |
嵌入式系统与传感器网络 |
| 光学系统分析 |
分布式控制系统 |
| 光学无损检测 |
面向检测系统的人工智能 |
| 光电测量仪器 |
自然语言处理 |
论文出版
本会议投稿经过2-3位组委会专家严格审核之后，最终所录用的论文将由Journal of Physics: Conference Series(JPCS)(ISSN:1742-6596)收录出版，出版后提交EI Compendex, Scopus检索。
投稿要求：
◆论文需按照会议官网的模板排版，详见官网；
◆文章原创未正式发表过，符合重复率要求；所有投稿将进行文献真实性检测，请务必保证参考文献可被核实DOI或相应链接。推荐使用【AI学术诚信检测平台】为您提供人工智能生成内容检测、文本相似性检测（中英文查重）、图片查重检测、参考文献风险检测。
参会方式
一篇录用文章允许一名作者免费参会；
1、口头演讲：申请口头报告，时间为15分钟；
2、海报展示：申请海报展示，A1竖版尺寸；
3、听众参会：不投稿仅参会，也可申请演讲及展示。
参会可获得会议资料（会议通知、参会证书等）
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| 会议时间 | 2026-12-04至2026-12-06 |
| 会议地点 | 云南昆明 |
声明：
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